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67메가 픽셀
CXP 고해상도 카메라

고해상도 이미지 고속 전송(Max. 65fps)

FFC(Flat Field Correction) 기능 지원

Multi ROI 지원

FFC 기능
비네팅 현상 발생 시 이미지의 균형 조정 , 픽셀 대 픽셀 보정

SWIR CAMERA
웨이퍼 IC 내부 균열 검사

GigE 인터페이스
Visible 영역 + SWIR 영역 동시 검사 가능 (400nm ~ 1,700nm)
Sensor Cooling Auto Mode 지원(TEC)

웨이퍼 IC 내부 균열 검사 가능
반도체 웨이퍼와 칩을 SWIR 파장 영역을 이용하여 육안으로 식별되지 않는 결함 검출
미세 크랙까지 검사 가능 (고해상도, 고 배율)

SCROLL

#Camera 카메라

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