본문 바로가기 주메뉴 바로가기

제품소개

> 제품소개 > 산업용 카메라
제품명
제품명
CREVIS

HG-A130SW

크래비스 SWIR 카메라
Sony CMOS Pregius IMX990
Visible + SWIR wideband sensor (0.4um to 1.7um)
Built-in thermoelectric cooler (Performance guarantee temperature : +15℃)

-. 가시광이미지와 SWIR 이미지를 하나의 카메라로 획득 가능
-. 셀 크기가 작아 저렴하고 좋은 SWIR 카메라
-. 고정노이즈(FPN)가 적고 이미지 퀄리티가 좋음

< 웨이퍼 IC 내부 균열 검사 가능 >
Solution
- 반도체 웨이퍼와 칩을 SWIR 파장 영역을 이용하여 육안으로 식별되지 않는 결함 검출
- 미세 크랙까지 검사 가능 (고해상도, 고 배율)

※ 사양 다운로드에 있는 SWIR 소개자료를 보시면 더 많은 내용을 확인하실 수 있습니다. ※

아래의 정보를 입력하시고 동의 후 확인 버튼을 누르시면 제품의 사양, 메뉴얼, 도면 파일이 다운로드 가능합니다.

담당자 성함 (혹은 회사명)

연락가능한 전화번호

[ 전문보기 ]

SPECIFICATION

Maker CREVIS Color Mono(SWIR)
Sensor size 1/2" Interface GigE
Sensor type Sony CMOS Pregius IMX990 Mount C
Resolution 1296 x 1032 Dimension(mm) 55 x 55 x 74
Pixel size(um) 5 x 5 Conformity CE, RoHS, WEEE
FPS(Max.) 72 wavelength Visible + SWIR wideband sensor (0.4um to 1.7um)
Shutter Global Optical Filter (Optional) 900nm Long Pass

DETAIL
















크래비스 SWIR 카메라 웨이퍼 IC 내부 균열 검사   

Industry    

- 반도체


End User

대외비


Problem ( or Benefit ) 

- 웨이퍼 절단 후 IC 가장자리에 크랙 발생

- 웨이퍼 내부 크랙의 경우 육안으로 식별 불가


Solution

- 반도체 웨이퍼와 칩을 SWIR 파장 영역을 이용하여 육안으로 식별되지 않는 결함 검출

- 미세 크랙까지 검사 가능 (고해상도, 고 배율)


 Results

- SWIR 파장을 이용하여 웨이퍼를 투과, 내부 크랙을 검출함으로써 제품의 수율 증가

- 기존 SWIR 센서 대비 고해상도이며, 셀사이즈가 작아 시스템 비용 절감